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RA可靠性动态老化设备
RA可靠性动态老化设备
ATE设备系列
低功耗/闪存内存测试设备
Low power chip test equipment
针对MEMORY ALPG、LOGIC、ASIC...等(<10w)低功耗产品的电性功能可靠性电性功能可靠性测试(HTOL/LTOL)的不同测试阶段需求(NPI/ELFR/MP)而设计。
中高功耗(50W\150W)系统针对5G、人工智能(Al)、元宇宙、边缘计算、主动辅助车用自动驾驶相关高功耗LOGIc、产品的电性功能可靠性测试(HTOL/LTOL)的不同试阶段需求(NPI/ELFR/MP)设计
可根据客户的不同需求定制化设备。低功耗/闪存内存、车规高低温、中高耗测试设备都可以依照需求进行定制。
针对AEC车规低温动态可靠性测(-50℃)
LTOL的测试要求,考虑测试实用性,结合高温HTOL的整合性设备. 该设备同时兼具低温(-50℃)LTOL与高温(125℃)HTOL 功能, 该设备研发已于正式通过客户出货与验收,目前使用客户以NPI/ELFR/量产。
其他客制化测试设备
Customized test equipment
中高功耗测试设备
Medium & High power test equipment
车规高/低温测试设备
Automotive grade High & Low temperature test equipment
技术服务与设备升级服务
半导体测试方案开发
高温老化寿命试验设备(HTOL)
低温老化寿命试验设备(LTOL)
低功耗芯片测试设备
中高功耗芯片测试设备
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