提高半导体生产良率,缩短封装老化时间,提前获得可靠性,执行主要测试仪的部分功能。因此,对主要测试仪具有替代作用,降低了生产成本。


低功耗芯片测试设备
中高功耗芯片测试设备
高低温芯片测试设备
验板机
1>技术来自TW RD团队(没有美系技术)
2>可以客制化设备规格功能 3>生产工厂在苏州,料件更新快 4>本地现场支持工程师多.服务到位(相对外国设备的支持慢)

1>技术来自TW RD团队(没有美系技术)
2>可以客制化设备规格功能 3>生产工厂在苏州,料件更新快 4>本地现场支持工程师多.服务到位(相对外国设备的支持慢)

1>技术来自TW RD团队(没有美系技术)
2>可以客制化设备规格功能 3>生产工厂在苏州,料件更新快 4>本地现场支持工程师多.服务到位(相对外国设备的支持慢)

1>技术来自TW RD团队(没有美系技术)
2>可以客制化设备规格功能 3>生产工厂在苏州,料件更新快 4>本地现场支持工程师多.服务到位(相对外国设备的支持慢)

产品作用
晶圆级动态老化测试设备
产品类型

中高功耗芯片测试设备

XINSSE520GB

XINSSE9106B

XINSSE9206B

高低温芯片测试设备

XINSSE2236B

XINSSE2136B


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